光伏組件常見(jiàn)的質(zhì)量問(wèn)題有:熱斑、隱裂和功率衰減。
PV熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)測(cè)試的“熱斑效應(yīng)” 是指在一定條件下,串聯(lián)支路中被遮蔽的太陽(yáng)能電池組件將當(dāng)做負(fù)載,消耗其他被光照的太陽(yáng)能電池組件所產(chǎn)生的能量,被遮擋的太陽(yáng)能電池組件此時(shí)將會(huì)發(fā)熱的現(xiàn)象。被遮擋的光伏組件、將會(huì)消耗有光照的光伏組件所產(chǎn)生的部分能量或所有能量,降低輸出功率;嚴(yán)重將會(huì)*性破壞太陽(yáng)能電池組件、甚至燒毀組件。
熱斑形成原因及檢測(cè)方法
光伏組件熱斑是指組件在陽(yáng)光照射下,由于部分電池片受到遮擋無(wú)法工作,使得被遮蓋的部分升溫遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于未被遮蓋部分,致使溫度過(guò)高出現(xiàn)燒壞的暗斑。
光伏組件熱斑的形成主要由兩個(gè)內(nèi)在因素構(gòu)成,即內(nèi)阻和電池片自身暗電流。
PV熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)的熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽(yáng)電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測(cè)試驗(yàn)。通過(guò)合理的時(shí)間和過(guò)程對(duì)太陽(yáng)電池組件進(jìn)行檢測(cè),用以表明太陽(yáng)電池能夠在規(guī)定的條件下長(zhǎng)期使用。
熱斑檢測(cè)可采用紅外線熱像儀進(jìn)行檢測(cè),紅外線熱像儀可利用熱成像技術(shù),以可見(jiàn)熱圖顯示被測(cè)目標(biāo)溫度及其分布。
隱裂形成原因及檢測(cè)方法
隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋,電池片的隱裂會(huì)加速電池片功率衰減,影響組件的正常使用壽命,同時(shí)電池片的隱裂會(huì)在機(jī)械載荷下擴(kuò)大,有可能導(dǎo)致開(kāi)路性破壞,隱裂還可能會(huì)導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。
隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的,組件受力不均勻,或在運(yùn)輸、倒運(yùn)過(guò)程中劇烈的抖動(dòng)都有可能造成電池片的隱裂。
光伏組件在出廠前會(huì)進(jìn)行 EL 成像檢測(cè),所使用的儀器為 EL 檢測(cè)儀。
該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理,利用高分辨率的 CCD 相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像,獲取并判定組件的缺陷。
EL 檢測(cè)儀能夠檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?,F(xiàn)象。
功率衰減分類(lèi)及檢測(cè)方法
光伏組件功率衰減是指隨著光照時(shí)間的增長(zhǎng),組件輸出功率逐漸下降的現(xiàn)象。光伏組件的功率衰減現(xiàn)象大致可分為三類(lèi):
*類(lèi),由于破壞性因素導(dǎo)致的組件功率衰減;
第二類(lèi),組件初始的光致衰減;
第三類(lèi),組件的老化衰減。
其中,*類(lèi)是在光伏組件安裝過(guò)程中可控制的衰減,如加強(qiáng)光伏組件卸車(chē)、倒運(yùn)、安裝質(zhì)量控制可降低組件電池片隱裂、碎裂出現(xiàn)的概率等。
第二類(lèi)、第三類(lèi)是光伏組件生產(chǎn)過(guò)程中亟需解決的工藝問(wèn)題。光伏組件功率衰減測(cè)試可通過(guò)光伏組件 I-V 特性曲線測(cè)試儀完成。